X射线衍射法是一种揭示材料和薄膜的晶体结构、化学成分和物理性质的无损分析技术。这些技术是基于观察X射线照射到样品上的散射强度，它是入射和散射角度、偏振、波长或能量的函数。
需要注意的是，X射线衍射现在通常被认为是X射线散射的的一个子集，其中散射是弹性的，而散射对象是晶体，因此所得图案包含由 X射线晶体学分析的尖锐斑点(如图所示)。然而，散射和衍射都是相关的普遍现象，它们之间并不总是存在区别。因此，1963年Guinier的经典著作[1]《晶体、不完美晶体和非晶中的X射线衍射》”，所以“衍射”在当时显然并不局限于晶体。
在IXS中，对非弹性散射X射线的能量和角度进行监测，给出动态结构因数 。由此可以获得材料的许多性质，具体性质取决于能量转移的尺度。下表列出了技术，改编自。[2]非弹性散射的X射线具有中间相位，因此原则上对 X射线晶体学没有用处。实际上，由于弹性散射，能量传输较小的X射线包含在衍射斑点中，而能量传输较大的X射线对衍射条纹的背景噪声有贡献。
| 技术 | 典型入射能量，keV | 能量转移范围 | 以下信息: |
|---|---|---|---|
| 康普顿散射 | 100 | 1000 | 费米表面形状 |
| 共振IXS (RIXS) | 4-20 | 0.1 - 50 | 电子结构和激发 |
| 非共振IXS | 10 | 0.1 - 10 | 电子结构和激发 |
| X射线拉曼散射 | 10 | 50 - 1000 | 吸收边缘结构，键，价态 |
| 高分辨率IXS | 10 | 0.001 - 0.1 | 原子动力学，声子色散 |
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